Weld ချို့ယွင်းချက်များ-weld ချို့ယွင်းချက်များသည် ပြင်းထန်ပါသည်၊ လျော်ကြေးပေးရန်အတွက် လက်ဖြင့် စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ ကြိတ်ခွဲခြင်းနည်းလမ်းကို အသုံးပြုပြီး ကြိတ်ခြင်းအမှတ်အသားများကို ဖြစ်ပေါ်စေကာ မညီညာသော မျက်နှာပြင်ကို ဖြစ်ပေါ်စေကာ အသွင်အပြင်ကို ထိခိုက်စေပါသည်။
မကိုက်ညီသောမျက်နှာပြင်weld ၏အချဉ်ဖောက်ခြင်းနှင့် passivation သာလျှင်မျက်နှာပြင်မညီမညာဖြစ်စေပြီးအသွင်အပြင်ကိုထိခိုက်စေလိမ့်မည်။
ခြစ်ရာများကို ဖယ်ရှားရန် ခက်ခဲသည်-ခြုံငုံအချဉ်ဖောက်ခြင်း passivation၊ ခြစ်ရာအမျိုးမျိုးတို့ကို ဖယ်ရှားခြင်းလုပ်ငန်းစဉ်တွင် မလုပ်ဆောင်နိုင်ပါ၊ ခြစ်ရာများ၊ ဂဟေဆော်မှုများနှင့် တွယ်ကပ်မှုကြောင့် မဖယ်ရှားနိုင်ဘဲ သံမဏိကာဗွန်သံမဏိ၏မျက်နှာပြင်ပေါ်ရှိ အက်ကွဲခြင်းနှင့် အခြားအညစ်အကြေးများ၊ ဓာတုချေးတက်ခြင်း သို့မဟုတ် လျှပ်စစ်ဓာတုချေးနှင့် သံချေးများအခြေအနေအောက်တွင် အဆိပ်ရှိသောမီဒီယာများရှိနေခြင်း။
မညီမညာ ပွတ်တိုက်ခြင်းနှင့် စိတ်အားထက်သန်မှု-pickling passivation ကုသမှုကို manual polishing နှင့် polishing ပြီးနောက်လုပ်ဆောင်သည်။ ကြီးမားသော အတုပြုလုပ်ခြင်းအတွက် တစ်ပြေးညီနှင့် တသမတ်တည်း ကုသမှုအကျိုးသက်ရောက်မှုကို ရရှိရန်မှာ ခက်ခဲပြီး စံပြဝတ်စုံ မျက်နှာပြင်ကို မရနိုင်ပါ။ အလုပ်ချိန်၊ အရန်ပစ္စည်းများ ကုန်ကျစရိတ်လည်း ပိုများသည်။
ခူးဆွတ်နိုင်မှု ကန့်သတ်ထားသည်-Pickling passivation paste သည် ပလာစမာဖြတ်တောက်ခြင်း၊ မီးတောက်ဖြတ်တောက်ခြင်းနှင့် အနက်ရောင်အောက်ဆိုဒ်အတွက် ဖယ်ရှားရန်ခက်ခဲသည်။
လူ့အကြောင်းအရင်းကြောင့်ဖြစ်ရတဲ့ ခြစ်ရာတွေက ပိုပြင်းထန်ပါတယ်ရုတ်သိမ်းခြင်း၊ သယ်ယူပို့ဆောင်ခြင်းနှင့် ဖွဲ့စည်းတည်ဆောက်ပုံလုပ်ဆောင်ခြင်းလုပ်ငန်းစဉ်တွင်၊ ခေါက်၊ ဆွဲ၊ တူ၊ တူနှင့် အခြားလူ့အချက်များကြောင့်ဖြစ်ရသည့် ခြစ်ရာများသည် ပို၍ပြင်းထန်သည်၊ ၎င်းသည် မျက်နှာပြင်ကို ကုသရာတွင် ပိုမိုခက်ခဲစေပြီး ကုသမှုပြီးနောက် သံချေးတက်ခြင်း၏ အဓိကအကြောင်းရင်းလည်းဖြစ်သည်။
စက်ပစ္စည်းအချက်များ: ပရိုဖိုင်တွင်၊ ပန်းကန်ပြားကို ကွေးညွှတ်ခြင်း၊ ကွေးညွှတ်ခြင်းဖြစ်စဉ်၊ ခြစ်ရာများနှင့် အတွန့်များကြောင့် ဖြစ်ပွားရခြင်းသည် ကုသမှုပြီးနောက် သံချေးတက်ခြင်း၏ အဓိကအကြောင်းရင်းလည်း ဖြစ်သည်။
အခြားအချက်များ-stainlessသံမဏိအတုများဝယ်ယူမှု၊ သိုလှောင်မှု လုပ်ငန်းစဉ်တွင် ရုတ်သိမ်းခြင်း၊ သယ်ယူပို့ ဆောင်ခြင်းကြောင့် အဖုအထစ်များနှင့် ခြစ်ရာများ ပိုမိုပြင်းထန်လာပြီး သံချေးတက်ခြင်း၏ အကြောင်းရင်းများထဲမှ တစ်ခုဖြစ်သည်။
စာတိုက်အချိန်- ဇူလိုင်-၂၆-၂၀၂၁